Каталог
Загрузки
Поиск по сайту
Эталон отражения с высокой отражательной способностью STAN-SSH |
Модель STAN-SSH представляет собой стандарт зеркального отражения с высокой отражательной способностью, выполненный из кварцевого стекла, который может быть использован в качестве эталона при контроле поверхностей с высокой отражательной способностью, таких как оптические покрытия и подложки, обработанные металлы и полупроводниковые материалы. Эталон STAN-SSH обеспечивает отражение ~85-90% в диапазоне 250-800 нм и ~85-98% в диапазоне 800-2050 нм. Версия STAN-SSH-NIST калибрована по стандартам NIST и имеет спектральную плоскость <5% в диапазоне 250-2500 нм. Вместе с эталоном STAN-SSH-NIST Вы получаете калибровочный сертификат, лист со значениями коэффициента отражения в зависимости от длины волны, а также калибровочные данные на цифровом носителе, с которого данные могут быть загружены в ПО SpectraSuite. Спектральное отражение эталона STAN-SSH Технические характеристики
Информация для заказа
Дополнительная информация |
Новое на сайте
- Комплект для измерения поглощения BUNDLE-FLAME-ABS
- Комплект для измерения поглощения BUNDLE-HDX-ABS
- Комплект для измерения поглощения BUNDLE-QEPRO-ABS
- Комплект для измерения флуоресценции BUNDLE-FLAME-FL
- Комплект для измерения флуоресценции BUNDLE-QEPRO-FL
- Комплект для ИК-спектрометрии BUNDLE-FLAME-NIR
- Комплект для ИК-спектрометрии BUNDLE-NIRQUEST-NIR
- Комплект для измерения протеина BUNDLE-HDX-BIO
Самое популярное
- Введение в спектроскопию для учебных лабораторий, оснащенных спектрометрами Ocean Optics
- Области применения для улучшения жизни 2015
- Интегрирующие сферы серий RT и RTC
- SpectraSuite: программная платформа для спектроскопии
- Интегрирующая сфера FOIS-1
- Определение оптического разрешения спектрометра
- Линейные перестраиваемые фильтры серии LVF
- Кюветы SpecVette
- Координатные столики Mikropack XYZ
- Универсальный держатель образцов для Рамановской спектроскопии OOA-HOLDER-RFA