gototopgototop
top
logo

Поиск по сайту


Главная Эталоны и метрология Тонкий диск для калибровки толщины STEP-WAFER
Тонкий диск для калибровки толщины STEP-WAFER

Тонкий диск для калибровки толщины STEP-WAFERКалибровочные диски Ocean Optics STEP-WAFER выполнены из кремний-диоксид кремния (Si-SiO2) и могут использоваться при измерениях толщины подложек, таких как кремниевые пластины или другие оптические подложки.

Диск STEP-WAFER (Si-SiO2) имеет диаметр 100 мм и 5 ступеней толщины калибровочной пластины в диапазоне от 0 до 500 нм, или от 600 до 1100 нм. Он идеально подходит для использования в качестве эталона при измерении толщины тонких прозрачных слоев на различных подложках.

Диск STEP-WAFER состоит из тонкой пластины из диоксида кремния на кремнии. Каждый шаг прозрачного слоя пронумерован и выгравирован на поверхности пластины.

Каждый диск STEP-WAFER поставляется с калибровочным сертификатом, содержащем информацию по координатам X иY, ψ, δ, период (в мм.) и толщину (в мм.) . Пластины калибруются с помощью эллипсометра.


Информация для заказа

Код товараОписание
STEP-WAFERТонкий диск для калибровки толщины, 0-500 нм, 5 шагов
STEP-WAFER-600-1100Тонкий диск для калибровки толщины, 600-1100 нм, 5 шагов


 

Голосование

Что Вы знаете о продукции Ocean Optics:

(400 голосов)

(232)
(88)
(61)
(19)
Спасибо за Ваш голос!

 
Задайте вопрос нашим специалистам, используя форму, или позвоните по телефону +7 (812) 920 40 33

bottom

Copyright © 2011-2017. E-Mail: info@oceanoptics.ru, Тел.: +7 (812) 920 40 33. Все права защищены.
При копировании материалов с сайта ссылка обязательна.